Регистрация
Комплексные поставки электронных компонентов

Каталог

Новости

8 октября 2021

Защитные смотровые окна Fibox

Компания Fibox представляет новинку: защитные смотровые окна.

6 октября 2021

Мы признаны лучшим дистрибьютором продукции Bourns в Восточной Европе!

Группа компаний «Симметрон» признана лучшим дистрибьютором продукции Bourns.

6 октября 2021

Компания Fibocom предлагает новые LTE-модули в формате миникарты miniPCI-e

Новые LTE-модули, L610-EU-MiniPCIe и NL668-EAU MiniPCIe, которые выполнены в формате миникарты miniPCI-e.

Все новости

Статьи

Необходимость в стандартизации измерений номинального тока.

Производители все еще не пришли к единому мнению о том, как указывать этот параметр и как его использовать при разработке приложений.

Повышение надежности высокоэффективных SiC MOSFET

Чтобы удовлетворить требования к эффективности SiC MOSFET, при проектировании необходимо уделить особое внимание обеспечению надежности, а также точно выбрать толщину оксидного слоя затвора.Тщательное тестирование должно подтвердить соответствие приложения заданным параметрам.

Перспективы использования GaN-технологии для управления электроприводом

GaN-кристаллы, используемые в интеллектуальных силовых модулях (Intelligent Power Module, IPM) для управления электроприводами со встроенными линеаризующими конденсаторами, позволяют значительно снизить потери мощности по сравнению с кремниевыми технологиями.

Все статьи

Ближайшие мероприятия

Октябрь 2021

28

Лабораторная плата от WE для изучения принципов работы DC/DC.

Виртуальная лабораторная работа по изучению поведения катушек индуктивности с разными структурами в стандартных и экстремальных режимах работы в DC\DC преобразователе.

Ноябрь 2021

25

Высокоэффективные малошумящие DC-DC преобразователи Magic Modules.

Обзор существующих решений, особенности и ключевые преимущества различных серий.

Декабрь 2021

16

Защита электроники от статики, особености испытаний и сертификации

Обзор требований и стандартов прохождения испытаний на статический разряд в зависимости от типа испытуемого электронного устройства.

Все мероприятия